Application of non normal process capability indices to semiconductor quality control

BITTANTI, SERGIO;LOVERA, MARCO;
1998

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/559343
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 40
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 28
social impact