RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Probe detectors for mapping manufacturing defects

ZAPPA, FRANCO;GHIONI, MASSIMO ANTONIO;GIUDICE, ANDREA;
2000-01-01
2000
Proceedings of the 2000 Third IEEE International Caracas Conference on Devices, Circuits and Systems, 2000.
9780780357662
sezele
04.1 Contributo in Atti di convegno
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