Innovative application of AC-voltammetry in the characterization of oxides nanolayers formed on metals, under the effect of AC-perturbation
LAZZARI, LUCIANO;ORMELLESE, MARCO;
2008-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
NMES08_47.pdf
Accesso riservato
:
Altro materiale allegato
Dimensione
213.73 kB
Formato
Adobe PDF
|
213.73 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.