IEEE Catalog Number 99 CH 3631-8, IEEE Publishing Services, New York (1999).

Explaining the Dependences of Electron and Hole Mobilities in Si MOSFETs Inversion Layer

LACAITA, ANDREA LEONARDO;
1999-01-01

Abstract

IEEE Catalog Number 99 CH 3631-8, IEEE Publishing Services, New York (1999).
1999
IEEE International Electron Devices Meeting – IEDM’99
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