"Trapping noise in semiconductor devices: A method for determining the noise spectrum as a function of the trap position".

LONGONI, ANTONIO FRANCESCO;SACCO, RICCARDO
1995-01-01

1995
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/525483
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 19
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact