Probing electric transport properties at the nanoscale by current sensing atomic force microscopy
FERRARI, GIORGIO;
2008-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Probing electric transport properties at the nanoscale by current sensing.pdf
Accesso riservato
:
Altro materiale allegato
Dimensione
9.65 MB
Formato
Adobe PDF
|
9.65 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
