Modeling of STI-induced stress phenomena in CMOS 90nm Flash technology

FERRARI, GIORGIO
2004

Solid-State Device Research conference, 2004. ESSDERC 2004. Proceeding of the 34th European
0780384784
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
essderc2004-proceedings.pdf

Accesso riservato

: Altro materiale allegato
Dimensione 2.48 MB
Formato Adobe PDF
2.48 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/271909
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 4
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 4
social impact