Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers

Bauer, G.; Stangl, J.; Von Kaenel, H.; Wintersberger, E.; Bollani, M.; Chrastina, D.; Grilli, E.; Guzzi, M.; Isella, G.; Martinelli, L.; Pezzoli, F.; Sanguinetti, S.

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Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers / G. Bauer; J. Stangl; H. Von Kaenel; E. Wintersberger; M. Bollani; D. Chrastina; E. Grilli; M. Guzzi; G. Isella; L. Martinelli; F. Pezzoli; S. Sanguinetti. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 124-125(2005), pp. 127-131.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11311/252810

Titolo:	Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers
Autori interni:	BOLLANI, MONICA CHRASTINA, DANIEL ISELLA, GIOVANNI
Data di pubblicazione:	2005
Rivista:	MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY
Handle:	http://hdl.handle.net/11311/252810
Appare nelle tipologie:	01.1 Articolo in Rivista

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