Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers / G. Bauer; J. Stangl; H. Von Kaenel; E. Wintersberger; M. Bollani; D. Chrastina; E. Grilli; M. Guzzi; G. Isella; L. Martinelli; F. Pezzoli; S. Sanguinetti. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 124-125(2005), pp. 127-131.
Titolo: | Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2005 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11311/252810 |
Appare nelle tipologie: | 01.1 Articolo in Rivista |
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