Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers

Bauer, G.; Stangl, J.; Von Kaenel, H.; Wintersberger, E.; Bollani, Monica; Chrastina, Daniel; Grilli, E.; Guzzi, M.; Isella, Giovanni; Martinelli, L.; Pezzoli, F.; Sanguinetti, S.

RE.PUBLIC@POLIMI Research Publications at Politecnico di Milano

Re.Public@Polimi, archivio istituzionale dei prodotti della ricerca, è il punto di raccolta, conservazione e disseminazione della produzione scientifica del Politecnico di Milano
E' basato su IRIS, il nuovo sistema di gestione dei dati della ricerca (persone, progetti, pubblicazioni, attività) adottato dall’ateneo

Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers / G. Bauer; J. Stangl; H. Von Kaenel; E. Wintersberger; M. Bollani; D. Chrastina; E. Grilli; M. Guzzi; G. Isella; L. Martinelli; F. Pezzoli; S. Sanguinetti. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 124-125(2005), pp. 127-131.

Titolo:	Raman spectroscopy of Si1-xGex epilayers
Autori:	G. Bauer J. Stangl H. Von Kaenel E. Wintersberger BOLLANI, MONICA CHRASTINA, DANIEL E. Grilli M. Guzzi ISELLA, GIOVANNI L. Martinelli F. Pezzoli S. Sanguinetti mostra autori esterni nascondi autori esterni
Data di pubblicazione:	2005
Rivista:	MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY
Handle:	http://hdl.handle.net/11311/252810
Appare nelle tipologie:	01.1 Articolo in Rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11311/252810

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.