Localized Electronic Excitations in NiO Studied with Resonant Inelastic X-Ray Scattering at the Ni M Threshold: Evidence of Spin Flip

GHIRINGHELLI, GIACOMO CLAUDIO;DALLERA, CLAUDIA;BRAICOVICH, LUCIO;
2005-01-01

2005
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
PRL95 197402 (Chiuzbaian, NiO M RIXS).pdf

Accesso riservato

: Post-Print (DRAFT o Author’s Accepted Manuscript-AAM)
Dimensione 438.04 kB
Formato Adobe PDF
438.04 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/247767
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 67
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 64
social impact