RE.PUBLIC@POLIMI pubblicazioni di ricerca del Politecnico di Milano

Ultra Low Level Ion Implantation Damage Detected by p-n Junctions Biased above Breakdown

GHIONI, MASSIMO ANTONIO;ZAPPA, FRANCO;COVA, SERGIO
2001-01-01
2001
Proceedings of Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST 2001
9783908450641
sezele
04.1 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
GADEST 2001.pdf

Accesso riservato

: Altro materiale allegato
Dimensione 355 kB
Formato Adobe PDF
  Visualizza/Apri
355 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/246582
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact