Experimental validation of an analog spiking neural network with STDP learning rule in CMOS technology

Polidori, Elisabetta;Camisa, Giovanni;Mesri, Alireza;Ferrari, Giorgio;Polidori, Cristina;
2022-01-01

2022
2022 IEEE International Conference on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE)
978-1-6654-8574-6
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