LEWITSCHNIG, HORST
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 104
AS - Asia 79
NA - Nord America 76
SA - Sud America 12
AF - Africa 3
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 2
OC - Oceania 1
Totale 277
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 71
IT - Italia 49
CN - Cina 21
RU - Federazione Russa 21
SG - Singapore 20
NL - Olanda 14
BD - Bangladesh 9
BR - Brasile 9
JP - Giappone 7
DE - Germania 6
KR - Corea 6
VN - Vietnam 5
GB - Regno Unito 4
IN - India 4
CA - Canada 3
IE - Irlanda 3
MY - Malesia 2
PH - Filippine 2
SE - Svezia 2
AR - Argentina 1
AT - Austria 1
AU - Australia 1
BJ - Benin 1
CH - Svizzera 1
CI - Costa d'Avorio 1
CL - Cile 1
CR - Costa Rica 1
FI - Finlandia 1
FR - Francia 1
GT - Guatemala 1
HK - Hong Kong 1
ID - Indonesia 1
MA - Marocco 1
PL - Polonia 1
PY - Paraguay 1
TR - Turchia 1
Totale 275
Città #
Milan 18
Amsterdam 12
Ashburn 11
Singapore 11
San Jose 10
Hefei 8
Bologna 6
Seoul 6
Tokyo 6
Bresso 5
Beijing 4
New York 4
Boardman 3
Council Bluffs 3
Dublin 3
Jena 3
Moscow 3
Americana 2
Brazoria 2
Chicago 2
Città Sant'Angelo 2
Figino 2
Guangzhou 2
Ho Chi Minh City 2
Indpls 2
Kassel 2
Las Vegas 2
London 2
Monza 2
Phoenix 2
Rome 2
Tempe 2
Toronto 2
Vedano al Lambro 2
Abidjan 1
Allentown 1
Baltimore 1
Bengaluru 1
Boa Viagem 1
Camposampiero 1
Cartago 1
Ciudad del Este 1
Cotonou 1
Dallas 1
Del Viso 1
Ercolano 1
Guatemala City 1
Haiphong 1
Helsinki 1
Hong Kong 1
Houston 1
Istanbul 1
Kannur 1
Kenitra 1
Kent 1
Kuala Lumpur 1
Kyoto 1
Lauterbourg 1
Linyi 1
Lockhart 1
Longueuil 1
Los Angeles 1
Lucknow 1
Lugano 1
Macaúbas 1
Manila 1
Melbourne 1
Modena 1
Mukwonago 1
North Charleston 1
Olean 1
Orem 1
Ourinhos 1
Phú Nhuận 1
Pittsburgh 1
Porter 1
Prescot 1
Queimados 1
Quezon City 1
Ravenna 1
Rio Branco do Sul 1
Santa Clara 1
Santiago 1
Solihull 1
Stockholm 1
São João de Meriti 1
São Tomé 1
Tangerang 1
Vienna 1
Warsaw 1
Waterbury 1
Điện Bàn 1
Totale 208
Nome #
A Method based on Gaussian Process Regression for Modelling Burn-in of Semiconductor Devices 224
A data-driven modelling framework for predicting the quality of semiconductor devices to support burn-in decisions 53
Totale 277
Categoria #
all - tutte 639
article - articoli 126
book - libri 0
conference - conferenze 513
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 1.278


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2022/202310 0 0 0 0 0 0 1 3 2 2 1 1
2023/202422 4 2 1 1 7 3 0 0 1 1 0 2
2024/202539 5 1 3 2 1 1 5 5 6 2 1 7
2025/2026183 22 21 11 11 4 8 15 18 28 15 9 21
2026/202723 14 9 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 277