...IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON METROLOGY FOR EXTENDED REALITY, ARTIFICIAL INTELLIGENCE AND NEURAL ENGINEERING (METROXRAINE)

Informazioni generali
	Titolo
	
					...IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON METROLOGY FOR EXTENDED REALITY, ARTIFICIAL INTELLIGENCE AND NEURAL ENGINEERING (METROXRAINE)
				
	Cris ID
	
					journal97368
				
	Codice ANCE
	
					E276729
				
	Nazione
	
					US
				
	ISSN
	
	Lingua
	
	Tipo
	
Collana

	Editore
	
					IEEE
				
	Anno di inizio
	
	Anno di fine
	
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