Understanding pulsed-cycling variability and endurance in HfOx RRAM

BALATTI, SIMONE;AMBROGIO, STEFANO;IELMINI, DANIELE
2015-01-01

2015
IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
9781467373623
9781467373623
cycling; endurance; Resistive switching memory (RRAM); Engineering (all)
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