Reliability of NAND Flash Arrays: A Review of What the 2-D–to–3-D Transition Meant

C. Monzio Compagnoni;A. Sottocornola Spinelli
2019-01-01

2019
sezele
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
ted19_1.pdf

Accesso riservato

Descrizione: ted19_1.pdf
: Publisher’s version
Dimensione 2.05 MB
Formato Adobe PDF
2.05 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/1113939
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 51
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 38
social impact