Special section guest editorial: Self-Mixing interferometry for industrial applications

Norgia, Michele
2018-01-01

2018
Atomic and Molecular Physics, and Optics; Engineering (all)
Elettrici
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
2018 OE special issue introduction.pdf

accesso aperto

: Publisher’s version
Dimensione 325.01 kB
Formato Adobe PDF
325.01 kB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11311/1057460
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
social impact