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Two-Dimensional Sequential Array Architectures: Design for Testability and Reconfiguration Issues 1-gen-1993 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
FSM fault models impact on test performances 1-gen-1993 BOLCHINI, CRISTIANA +
A design methodology for the correct specification of VLSI systems 1-gen-1993 BOLCHINI, CRISTIANA +
A CMOS fault tolerant architecture for switch-level faults 1-gen-1994 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
CASTOR: a computer aided system testability optimizer 1-gen-1994 BOLCHINI, CRISTIANA
Design for testability issues in the implementation of sequential array architectures 1-gen-1994 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
CASTOR: an expert advisor for testability enhancement of VLSI systems 1-gen-1994 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
CMOS Reliability Improvements Through a New Fault Tolerant Technique 1-gen-1994 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
Two-Dimensional Sequential Array Architectures: Design for Testability Approaches 1-gen-1994 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
A state encoding for self-checking finite state machines 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASALICE, FABIOSCIUTO, DONATELLA +
A new switching-level approach to multiple-output functions synthesis 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
CMOS Fault Tolerant Architectures for Switch level faults 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
Innovative design of CMOS fault tolerant structures 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA +
Self-checking FSMs based on a constant distance state encoding 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASALICE, FABIOSCIUTO, DONATELLA +
Towards WSI testable devices: an improved scan insertion technique 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANAFERRANDI, FABRIZIOSCIUTO, DONATELLA +
A Wafer Level Testability Approach Based on an Improved Scan Insertion Technique 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANAFERRANDI, FABRIZIOSCIUTO, DONATELLA +
A BDD based algorithm for detecting difficult faults 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASALICE, FABIO +
An output/state encoding for self-checking finite state machine 1-gen-1995 BOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA
Redundant faults in TSC networks: definition and removal 1-gen-1996 BOLCHINI, CRISTIANASALICE, FABIOSCIUTO, DONATELLA
Software methodologies for VHDL code static analysis based on flow graphs 1-gen-1996 BARESI, LUCIANOBOLCHINI, CRISTIANASCIUTO, DONATELLA
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