Sfoglia per Autore SABATINI, FILIPPO
Mostrati risultati da 1 a 3 di 3
Finite Element Analysis of the Asymmetric Warpage Induced by the Oxidation Process in Trench Insulated Gate Bipolar Transistor (Trench IGBT) 12” Si Patterned Wafers
2025-01-01 Vinciguerra, Vincenzo; Sabatini, Filippo; Boutaleb, Mohamed; Malgioglio, Giuseppe Luigi; Mariani, Simone Dario; Roqueta, Fabrice; Fagiani, Davide; Renna, Marco; Zuliani, Paola; Bassi, Andrea Li
Investigating composition-dependent fracture toughness in silicon-rich silicon nitride layers
2026-01-01 Sabatini, Filippo; Cattarinuzzi, Emanuele; Coutellier, Vincent; Serafini, Andrea; Mariani, Simone; Fagiani, Davide; Chapelon, Laurent-Luc; Zuliani, Paola; Li Bassi, Andrea
In Situ vs. Ex Situ Indentation for Adhesion Evaluation of Nitride/Polymer Interfaces: A Comparative Study Under Controlled Ambient Conditions
2026-01-01 Sabatini, Filippo; Cattarinuzzi, Emanuele; Coutellier, Vincent; Mariani, Simone; Fagiani, Davide; Chapelon, Laurent-Luc; Li Bassi, Andrea; Zuliani, Paola
Mostrati risultati da 1 a 3 di 3
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile